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Product classification薄膜介電常數介質損耗測試儀LJD系列 介電常數測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標準介質樣品組成,能對薄膜、各種板材及液態絕緣材料進行高低頻介電常數(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
LJD系列高低頻介電常數介質損耗測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標準介質樣品組成,能對薄膜、各種板材及液態絕緣材料進行高低頻介電常數(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
LJD型介電常數介質損耗測試儀是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。
LJD型絕緣紙介電常數介質損耗測試儀值測量范圍: 2 ~ 1023,量程分檔:30100﹑300﹑1000,自動換檔或手動換檔固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz) 工作誤差:≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
陶瓷材料介電常數介質損耗測試儀GB/T1409在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。
GB/T1409介電常數介質損耗測試儀介紹是我公司 研制生產的產品,自該產品實現銷售后,我公司工程師就一直持續不斷對產品改進升級;特別是在軟件上不斷地加以完善,改進了早期產品存在的不足之處,提高了測試精度,并增加新的功能
介質損耗介電常數測試儀1.信號源: DDS數字合成信號 10KHZ-70MHZ *2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數 3.Q值測量范圍:1~1023 4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;