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熱變形、維卡軟化點測試儀源頭

簡要描述:XRW-300HB熱變形、維卡軟化點測試儀源頭采用采用計算機進行顯示操作,控制系統基于第二代ARM Cortex-M3內核的微控制器研發設計,它具采用操作頻率高達120MHz性能、低功耗的32位微處理器,性能遠高于16位、12MHz單片機,具有大容量閃存、大容量SRAM、豐富的IO端口資源以及其他外設組件,高度集成的測控系統,具有實時性更好、速度更快、穩定性更高的特點

  • 更新時間:2025-02-09
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詳細介紹

XRW-300HB熱變形、維卡軟化點測試儀源頭

 

XRW-300HB熱變形、維卡軟化點測試儀源頭采用采用計算機進行顯示操作,控制系統基于第二代ARM Cortex-M3內核的微控制器研發設計,它具采用操作頻率高達120MHz性能、低功耗的32位微處理器,性能遠高于16位、12MHz單片機,具有大容量閃存、大容量SRAM、豐富的IO端口資源以及其他外設組件,高度集成的測控系統,具有實時性更好、速度更快、穩定性更高的特點,采用了基于Σ-Δ技術的16位無誤碼數據的AD芯片,*的PID控制算法使控制平穩可靠,基于帶CRC校驗的主從通訊模式,數據安全可靠,并在試驗過程中可時實監控試驗溫度和變形量;試驗結束時系統自動停止加熱,并可打印試驗報告和試驗曲線。該系列機型是各質檢單位、大專院校和各企業自檢的*儀器。

XRW-300HB型具有試樣架升降功能,可在試驗開始或結束時對試樣架進行提升或下降,該機主要用于非金屬材料如塑料、橡膠、 尼龍、電絕緣材料等的熱變形溫度及維卡軟化點溫度的測定。產品符合IS075(E)、IS0306(E)、GB/T8802、GB/T1633、GB/T1634等標準要求。

主要技術參數:

溫度控制范圍:環境溫度—300℃

升溫速率:(120±10)℃/h (12±1)℃/6min (50±5)℃/h (5±0.5)℃/6min

溫度示值誤差:0.1℃

溫度控制精度:±0.5℃

形變示值誤差:±0.001mm,

變形測量范圍:0—10mm

試樣架個數:6路

負載桿及托盤質量:68g

加熱介質:甲基硅油(運動粘度一般選擇200厘斯)或變壓器油

冷卻方式:150以上自然冷卻,150以下水冷或自然冷卻。

加熱功率:4kw

儀器尺寸:940mm×520mm×970mm

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